影響渦流涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素

在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法》(等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2360-1982)中，對(duì)渦流測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)、操作程序和影響測(cè)量精度的因素及其注意事項(xiàng)作了詳細(xì)地闡 述。其中有關(guān)影響測(cè)量精度因素的條款，應(yīng)視作渦流涂鍍層測(cè)厚儀開(kāi)發(fā)應(yīng)用必須遵循的指導(dǎo)性文件，這些影響測(cè)量精度的主要因素包括：
1、覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。
2、基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。
3、任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。
4、渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng)，即對(duì)靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。
5、試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響，這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。
6、基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量精 度，粗糙程度增加，影響增大。
7、渦流測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物，測(cè)量時(shí)應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。