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德國(guó)EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀

  • 型號(hào):MiniTest3100
  • 品牌:德國(guó)EPK
  • 產(chǎn)品簡(jiǎn)述:

    德國(guó)EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

    ? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
    ? 有色金屬上的絕緣覆層
    ? 絕緣基體上的有色金屬覆層

  • 產(chǎn)品名稱(chēng):德國(guó)EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):德國(guó)EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀
  • 產(chǎn)品介紹
  • 規(guī)格參數(shù)
  • 訂購(gòu)信息
聯(lián)系我們

電話(huà):400-888-5016

地址:上海市嘉定區(qū)平城路1055號(hào)創(chuàng)新創(chuàng)業(yè)大廈17樓

Email:yp1718@163.com 

工作時(shí)間:

周一至周五 9:00- 17:00

非工作時(shí)間請(qǐng)聯(lián)系:13641663629


 

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德國(guó)EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀

型號(hào):MiniTest3100

品牌:德國(guó)EPK

產(chǎn)品詳情

德國(guó)EPK MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

? 鋼鐵基體上的非磁性覆層
? 有色金屬上的絕緣覆層
? 絕緣基體上的有色金屬覆層

  • 產(chǎn)品介紹
  • 規(guī)格參數(shù)
  • 訂購(gòu)信息
德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
- 所有型號(hào)均可配所有探頭
- 可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
主機(jī)功能
型號(hào) 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)) 1 1 10 99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),可設(shè)寬容度極限值) - 1 10 99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù) - 1 500 500
數(shù)據(jù)總量 1 10000 10000 10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar -
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar - -
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk - -
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù) - - -
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值 - -
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間 -
其他功能
透過(guò)涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC) -
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset) - -
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能 -
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
設(shè)置極限值 - -
公英制轉(zhuǎn)換
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最大最小值 - -
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) - -
浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
組內(nèi)單值延遲顯示 -
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值

可選探頭參數(shù)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇最適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層 
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層 
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 量程 低端
分辨率
誤差 最小曲率
半徑(凸/凹)
最小測(cè)量
區(qū)域直徑
最小基
體厚度
探頭尺寸
F05 0-500μm 0.1μm ±(1%+0.7μm) 1/5mm 3mm 0.2mm φ15x62mm
F1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/6mm 5mm 0.5mm φ8x170mm
F3 0-3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm 0.5mm φ15x62mm
F10 0-10mm 5μm ±(1%+10μm) 5/16mm 20mm 1mm φ25x46mm
F20 0-20mm 10μm ±(1%+10μm) 10/30mm 40mm 2mm φ40x66mm
F50 0-50mm 10μm ±(3%+50μm) 50/200mm 300mm 2mm φ45x70mm
N02 0-200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1/10mm 2mm 50μm φ16x70mm
N.08Cr 0-80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2.5mm 2mm 100μm φ15x62mm
N1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 2mm 50μm φ15x62mm
N1.6/90 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面/10mm 5mm 50μm φ13x170mm
N10 0-10mm 10μm ±(1%+25μm) 25/100mm 50mm 50μm φ60x50mm
N20 0-20mm 10μm ±(1%+50μm) 25/100mm 70mm 50μm φ65x75mm
N100 0-100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平面 200mm 50μm φ126x155mm
CN02 10-200μm 0.2μm ±(1%+1μm) 平面 7mm 無(wú)限制 φ17x80mm
FN1.6 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P 0-1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平面 30mm F:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN2 0-2000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5/10mm 5mm F:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

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